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利发国际娱乐平台 2019/09/29 15:55:01 点击 316 次
[导读] 滨松将于第二届质谱仪器研发论坛发布最新质谱用探测技术动向

第二届质谱仪器研发论坛将于2019年10月10日-12日在江苏昆山举办,本届会议由中国仪器仪表学会分析仪器分会质谱仪器学术组主办,分析测试百科网协办,昆山禾信质谱技术有限公司承办。届时将有众多质谱研发领域资深专家与会,共同讨论质谱核心技术的创新开发及应用问题。


滨松中国将出席本次会议,并发表“质谱探测新技术,为质谱仪研发带来更多可能”的报告(10月11日,15:45-16:00)。报告将介绍本年ASMS中发布的滨松应用于质谱分析仪器的探测技术动向,以及产品升级和最新应用信息,其中包括了高气压下(达1Pa)仍可高增益正常工作的栅网阳极结构MCP、大幅缩短TOF-MS(MALDI)前处理时间的无基质辅助电离基板(DIUTHAME)、复合雪崩二极管结构的MCP、通道式电子倍增器(CEM)。


滨松拥有65年光电探测器的研制经验,享誉世界,在质谱用探测器技术的耕耘也已有40年的历史,可为质谱提供离子化光源、电子倍增器(EM)、微通道板(MCP)等产品。此次会议,滨松将在现场进行包括新品在内的多类系列产品的展示,欢迎届时莅临展位参观与交流。


质谱新品.png

[来源:滨松中国]  
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